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- 氮化鎵/GaN：未來半導體技術的新希望
- 氮化鎵（GaN）作為一種新型半導體材料，被認為是未來半導體技術的新希望。隨著科技的不斷進步，人們對電子設備的需求也越來越高，而傳統的硅材料已經不能滿足高功率和高頻率的需求。而氮化鎵作為一種寬禁帶半導體...
02-03
2024
- 二代半導體缺陷檢測報告揭示行業瓶頸
- 二代半導體缺陷檢測報告揭示行業瓶頸近年來，隨著人工智能、物聯網等新興技術的迅猛發展，半導體行業成為推動科技進步的重要基石。然而，半導體制造過程中的缺陷問題一直是制約行業發展的重要瓶頸之一。最近，一份二...
02-03
2024
- 新型硅襯底缺陷檢測儀：提升半導體質量控制的關鍵設備
- 新型硅襯底缺陷檢測儀：提升半導體質量控制的關鍵設備近年來，隨著半導體行業的快速發展，對半導體質量的要求也越來越高。而硅襯底作為半導體制造過程中的重要組成部分，其質量直接影響整個芯片的性能。因此，開發一...
02-03
2024
- 探索未知之光——’lumina AT1’在中國市場的亮相
- 探索未知之光——\'lumina AT1\'在中國市場的亮相近年來，隨著人們對環境問題的關注度不斷提升，對于可持續出行方式的需求也日益增加。在這樣的背景下，電動汽車成為了眾多消費者和廠商的新寵。然而，...
02-03
2024
- ‘Lumina AT2-EFEM: 全新高效能中文自動化測試系統’
- Lumina AT2-EFEM：全新高效能中文自動化測試系統隨著科技的不斷進步，自動化測試系統在各個行業中扮演著越來越重要的角色。而針對中文市場需求的自動化測試系統也越來越受到關注。Lumina AT...
02-03
2024
- 外延表面缺陷檢測儀器：提升外延片質量的關鍵工具
- 外延表面缺陷檢測儀器：提升外延片質量的關鍵工具外延片是一種用于制造半導體器件的重要材料，其質量直接影響著器件的性能和可靠性。而外延片在制備過程中可能會出現一些表面缺陷，如晶格缺陷、氧化物顆粒和金屬雜質...
02-03
2024
- 化合物半導體缺陷檢測儀：高效、精準的質量控制利器
- 化合物半導體缺陷檢測儀：高效、精準的質量控制利器近年來，隨著電子科技的不斷發展，化合物半導體材料在光電子、能源存儲等領域得到了廣泛應用。然而，高性能化合物半導體材料的制備過程中往往伴隨著各種缺陷的產生...
02-03
2024
- 外延表面缺陷檢測儀器: 提高外延片質量的關鍵
- 外延片是一種用于制造半導體器件的重要材料，其質量的好壞直接影響到器件性能的優劣。而外延片的質量主要受到表面缺陷的影響，因此，開發一種有效的外延表面缺陷檢測儀器是提高外延片質量的關鍵。外延表面缺陷檢測儀...
02-03
2024
- 硅襯底缺陷檢測儀器：優質硅晶片表面缺陷全面檢測方案
- 硅襯底缺陷檢測儀器：優質硅晶片表面缺陷全面檢測方案隨著科技的不斷發展，硅晶片在電子行業中扮演著重要的角色。而硅晶片的質量直接影響著整個電子產品的性能和穩定性。在硅晶片的制造過程中，表面缺陷是一個常見的...
02-03
2024
