02-03

2024

碳化硅(SiC)：黑金屬陶瓷的未來之路

碳化硅(SiC)：黑金屬陶瓷的未來之路碳化硅(SiC)是一種新型的材料，由硅和碳元素組成。它具有高硬度、高強度、高溫穩定性和耐腐蝕等優異性能，被廣泛應用于各個領域。在現代工業中，碳化硅已經成為黑金屬陶...

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2024

硅襯底缺陷檢測儀器：高精度激光掃描技術助力品質保障

硅襯底缺陷檢測儀器：高精度激光掃描技術助力品質保障硅襯底作為半導體制造過程中的重要組成部分，在芯片生產中起著至關重要的作用。然而，由于制造過程中的不可避免的因素，硅襯底上可能會存在一些缺陷，這些缺陷對...

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氮化鎵表面缺陷檢測儀——高效精準的半導體質量監測設備

氮化鎵是一種重要的半導體材料，在LED、激光器等領域有著廣泛的應用。然而，氮化鎵材料的表面缺陷常常會影響其電學和光學性能，因此需要進行精確的表面缺陷檢測。近年來，氮化鎵表面缺陷檢測儀作為一種高效精準的...

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GaN缺陷檢測儀器：高能效材料質量保障的關鍵

GaN缺陷檢測儀器：高能效材料質量保障的關鍵近年來，氮化鎵（GaN）材料在半導體行業中得到了廣泛應用，其優異的性能使其成為高能效電子器件的首選材料。然而，GaN材料的制備過程中往往會引入一些缺陷，這些...

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2024

【產品介紹】’lumina AT1-EFEM’中文版：高亮度照明組件助力環境美化

【產品介紹】lumina AT1-EFEM中文版：高亮度照明組件助力環境美化隨著城市化進程的不斷加快，人們對于城市環境的美化需求也日益增長。在這樣的背景下，lumina AT1-EFEM這款高亮度照明...

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線光譜測試儀器：探索物質的光學特性的高精度工具

線光譜測試儀器是一種用于探索物質光學特性的高精度工具。它通過測量物質在不同波長的光照射下的光的吸收、散射和透射等特性，來研究物質的組成、結構和性質。線光譜測試儀器廣泛應用于物理、化學、材料科學等領域，...

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SiC缺陷測試探索：深入挖掘新一代半導體材料的潛在問題

SiC 缺陷測試探索：深入挖掘新一代半導體材料的潛在問題近年來，隨著半導體技術的迅猛發展，新一代半導體材料開始受到廣泛關注。其中，碳化硅（SiC）作為一種廣泛應用于高溫、高頻和高壓條件下的半導體材料，...

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《SiC缺陷測試：探尋材料優劣的關鍵》

《SiC缺陷測試：探尋材料優劣的關鍵》硅碳化物（SiC）是一種重要的半導體材料，被廣泛應用于高溫、高功率和高頻率的電子器件中。然而，由于其生長過程中難以避免的缺陷，SiC材料的質量控制成為了研究的重點...

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電阻率測試儀器：精準測量電導性能的高效工具

電阻率測試儀器：精準測量電導性能的高效工具電阻率測試儀器是一種用于測量材料電導性能的高效工具。它可以精確測量材料的電阻率，幫助工程師和科研人員了解材料的電導特性，從而為電子設備的設計和制造提供參考。電...