02-04

2024

SiC缺陷測試：探索碳化硅材料的技術(shù)短板

SiC缺陷測試：探索碳化硅材料的技術(shù)短板碳化硅（SiC）作為一種新興材料，具有優(yōu)異的機械、熱學(xué)和電學(xué)性能，被廣泛應(yīng)用于能源、電子和光電等領(lǐng)域。然而，SiC材料的制備過程中常常會出現(xiàn)一些缺陷，這些缺陷可...

02-04

2024

高效準確的二代半導(dǎo)體缺陷檢測儀器

高效準確的二代半導(dǎo)體缺陷檢測儀器隨著電子科技的快速發(fā)展，半導(dǎo)體材料在各個領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。而作為二代半導(dǎo)體材料的一種重要代表，其在信息技術(shù)、光電子學(xué)、能源領(lǐng)域等發(fā)揮著重要的作用。然而，由于二代半導(dǎo)...

02-04

2024

化合物半導(dǎo)體缺陷檢測儀：精準便捷識別缺陷的利器

化合物半導(dǎo)體缺陷檢測儀：精準便捷識別缺陷的利器隨著科技的不斷發(fā)展，化合物半導(dǎo)體材料在光電子器件中的應(yīng)用越來越廣泛。然而，由于其特殊的晶體結(jié)構(gòu)和復(fù)雜的原子組成，化合物半導(dǎo)體材料往往存在著各種缺陷，如空位...

02-04

2024

“探索光明之旅：‘lumina AT1’引領(lǐng)未來科技”

探索光明之旅：‘lumina AT1’引領(lǐng)未來科技近年來，科技的飛速發(fā)展使得我們的生活變得越來越便利和智能化。在這個科技潮流中，光明科技公司推出的‘lumina AT1’引領(lǐng)著未來科技的發(fā)展方向。它不...

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“探索中的光明：’lumina AT2-U’帶來新的突破”

探索中的光明：\'lumina AT2-U\'帶來新的突破隨著時代的進步，科技的不斷發(fā)展，人們對于燈光照明的需求也日益增加。與此同時，人們對照明的要求也越來越高，不僅要求明亮、節(jié)能，還要求照明效果更加...

02-04

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氮化鎵表面缺陷檢測儀：實時高精度缺陷分析技術(shù)

氮化鎵是一種重要的半導(dǎo)體材料，具有廣泛的應(yīng)用前景。然而，在氮化鎵材料的制備過程中，常常會出現(xiàn)一些表面缺陷，這些缺陷會嚴重影響材料的性能和品質(zhì)。因此，開發(fā)一種實時高精度的氮化鎵表面缺陷檢測儀具有重要的研...

02-04

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‘魯米納AT2-EFEM：高性能電動車輛的新選擇’

魯米納AT2-EFEM：高性能電動車輛的新選擇隨著電動車市場的不斷發(fā)展，消費者對于電動車的需求也越來越高。然而，傳統(tǒng)的電動車往往在續(xù)航里程和性能上存在一定的局限性，導(dǎo)致消費者對其不夠滿意。而魯米納AT...

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2024

氮化鎵（GaN）：帶來半導(dǎo)體行業(yè)的革命

氮化鎵（GaN）：帶來半導(dǎo)體行業(yè)的革命隨著科技的不斷發(fā)展，半導(dǎo)體行業(yè)也在迅速進步。在眾多半導(dǎo)體材料中，氮化鎵（GaN）作為一種新型的半導(dǎo)體材料，正逐漸引起人們的關(guān)注。它的獨特性能使其成為半導(dǎo)體行業(yè)的一...

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2024

電阻率測試設(shè)備儀器：全面檢測電阻率的高精度儀器

電阻率測試設(shè)備儀器：全面檢測電阻率的高精度儀器電阻率測試設(shè)備是一種用于測量電阻率的高精度儀器，它廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)領(lǐng)域中。電阻率是材料導(dǎo)電性的一個重要參數(shù)，它能夠反映材料的導(dǎo)電性能以及電流通過材料時的...