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團(tuán)隊(duì)超20年的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，熟知光學(xué)、光譜、電性等行業(yè)測(cè)試，我會(huì)在最快的時(shí)間與您聯(lián)絡(luò)；

銷(xiāo)售：廖經(jīng)理

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測(cè)量項(xiàng)目

激光表面缺陷分析 Lumina-AT-Auto

Lumina AT-Auto系列

品牌：Lumina
型號(hào) ：AT1/2
產(chǎn) 地：美國(guó)
采用光學(xué)表面分析（OSA）專(zhuān)用技術(shù)的自動(dòng)特征缺陷（DOI）檢測(cè)與分類(lèi)系統(tǒng)。

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激光表面缺陷分析 Lumina AT-EFEM

Lumina AT-EFEM系列

推薦理由： * 搭載EFEM系統(tǒng)
● 最高分辨率可達(dá) 100nm PSL
● 全幅面掃描最大視場(chǎng)可達(dá)"600*600mm"
● 軟件自動(dòng)分篩統(tǒng)計(jì)”劃痕，凹凸點(diǎn)，沾污，顆粒"等缺陷
● 透明樣品可實(shí)現(xiàn)空間缺陷點(diǎn)位（夾層缺陷判別）
● 樣品無(wú)形狀要求（不要求圓片）

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單點(diǎn)膜厚測(cè)試儀 F20系列

Filmetrics F20

推薦理由：
● 速度快經(jīng)濟(jì)實(shí)惠全球銷(xiāo)冠
● 一鍵自動(dòng)測(cè)量操作簡(jiǎn)單
● 最快不到1s,完成厚度和反射率測(cè)試
（需根據(jù)測(cè)量厚度，選擇相應(yīng)波長(zhǎng)型號(hào)配置）

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單點(diǎn)厚度測(cè)試儀 F3-sX系列

Filmetrics F3-sX

推薦理由：
● 測(cè)量半導(dǎo)體與介電層薄膜厚度到3毫米
● 一鍵自動(dòng)測(cè)量，操作簡(jiǎn)單
● 最快不到1s，完成厚度和反射率測(cè)試
（需根據(jù)測(cè)量厚度，選擇相應(yīng)波長(zhǎng)型號(hào)配置）

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單點(diǎn)厚度測(cè)試儀 F3-CS系列

Filmetrics F3-CS

推薦理由：
● 為微小視野及微小樣品測(cè)量設(shè)計(jì)，如聚對(duì)二甲苯和真空鍍膜層厚度
● 一鍵自動(dòng)測(cè)量，操作簡(jiǎn)單
● 最快不到1s，完成厚度和反射率測(cè)試
（需根據(jù)測(cè)量厚度，選擇相應(yīng)波長(zhǎng)型號(hào)配置）

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