首頁 > 新聞中心
- 《TTV測試儀：打造智能家居的穩(wěn)定基石》
- 在智能家居領(lǐng)域，TTV測試儀作為穩(wěn)定基石發(fā)揮著重要作用。隨著科技的不斷進步，越來越多的家庭開始接觸和使用智能家居產(chǎn)品，這也給相關(guān)企業(yè)帶來了巨大的商機。然而，智能家居產(chǎn)品的穩(wěn)定性一直是一個令人頭痛的問題...
09-07
2023
- 晶圓表面缺陷檢測設(shè)備：全面捕捉晶圓缺陷，提升生產(chǎn)質(zhì)量
- 晶圓表面缺陷檢測設(shè)備：全面捕捉晶圓缺陷，提升生產(chǎn)質(zhì)量晶圓表面缺陷是半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中常見的問題之一，對產(chǎn)品的質(zhì)量和性能有著重要的影響。為了提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量，晶圓表面缺陷檢測設(shè)備應(yīng)運而生。這些設(shè)備通...
09-07
2023
- GaN表面缺陷檢測儀：高效捕捉半導(dǎo)體材料上的表面缺陷
- GaN表面缺陷檢測儀：高效捕捉半導(dǎo)體材料上的表面缺陷近年來，隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷發(fā)展，氮化鎵（GaN）材料作為一種新興的半導(dǎo)體材料，被廣泛應(yīng)用于高功率電子器件、光電子器件和射頻器件等領(lǐng)域。然而，GaN...
09-07
2023
- 膜厚測試方法與注意事項
- 膜厚測試方法與注意事項膜厚測試是在工程和科學(xué)領(lǐng)域中常見的一種實驗測試方法，用于測量材料表面的膜層的厚度。本文將介紹一些常用的膜厚測試方法以及注意事項。一、膜厚測試方法1. 輪廓儀測試法：輪廓儀是一種常...
09-07
2023
- “光芒璀璨：探索AT-EFEM技術(shù)的未來”
- 光芒璀璨：探索AT-EFEM技術(shù)的未來隨著科技的不斷進步和人們對于綠色環(huán)保的追求，新能源技術(shù)逐漸成為全球關(guān)注的焦點。其中，光伏發(fā)電作為最具潛力的新能源之一，正日益受到各國的重視和推廣。而在光伏發(fā)電的核...
09-07
2023
- SiC表面缺陷檢測技術(shù)的研究及應(yīng)用
- SiC表面缺陷檢測技術(shù)的研究及應(yīng)用摘要：隨著SiC材料在電子、光電子等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，對其表面缺陷的檢測技術(shù)提出了更高的要求。本文綜述了SiC表面缺陷檢測技術(shù)的研究進展，并分析了其在實際應(yīng)用中的優(yōu)勢與...
09-07
2023
- 薄膜厚度測試探索與應(yīng)用
- 薄膜厚度測試探索與應(yīng)用薄膜是一種具有很小厚度的材料，常用于涂層、電子器件、光學(xué)器件等領(lǐng)域。薄膜的厚度是其性能和功能的重要參數(shù)，因此準確測量薄膜厚度對于材料研究和工程應(yīng)用至關(guān)重要。薄膜厚度的測試方法有很...
09-07
2023
- 電阻率測試設(shè)備——精準測量電阻率的高效工具
- 電阻率測試設(shè)備——精準測量電阻率的高效工具電阻率測試設(shè)備是一種用來測量物質(zhì)電阻率的工具，它能夠準確地計算出物質(zhì)的電阻率數(shù)值。電阻率是物質(zhì)在單位長度和單位橫截面積下的電阻，是描述物質(zhì)導(dǎo)電性能的重要參數(shù)。...
09-07
2023
- “探索光明未知：’lumina AT2’為你開啟全新視界”
- 【探索光明未知：\'lumina AT2\'為你開啟全新視界】隨著科技的不斷進步，人們對于光明的探索與追求也變得越來越深入。而今天，我們迎來了一款全新的革命性產(chǎn)品——\'lumina AT2\'，它將...
09-07
2023
