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- 探索未知的光明世界：’lumina AT1′
- 探索未知的光明世界：\'lumina AT1\'當我們站在科技的邊界，我們常常被新奇而未知的事物所吸引。在這個充滿無限可能的時代，科技已經走進了我們的日常生活，推動著人類社會的進步。而在這個不斷創新的...
09-07
2023
- SiC缺陷檢測設備：高效、精準、可靠的無損檢測解決方案
- SiC缺陷檢測設備：高效、精準、可靠的無損檢測解決方案隨著人們對高效能材料的需求不斷增加，碳化硅（SiC）作為一種優秀的半導體材料，正在得到越來越廣泛的應用。然而，SiC材料的生產過程中難免會產生一些...
09-07
2023
- GaN缺陷檢測儀：助力半導體行業質量控制
- GaN缺陷檢測儀：助力半導體行業質量控制隨著科技的不斷進步，半導體行業在全球范圍內得到了廣泛應用。在半導體材料中，氮化鎵（GaN）作為一種新興材料，具有優異的電子性能和熱性能，被廣泛應用于功率電子、射...
09-07
2023
- 探討GaN缺陷檢測設備的最新進展
- 探討GaN缺陷檢測設備的最新進展近年來，氮化鎵（GaN）材料在電子行業中得到了廣泛的應用，尤其在高功率和高頻率電子器件中具有巨大的潛力。然而，GaN材料的生長和制備過程中難免會產生一些缺陷，如點缺陷、...
09-07
2023
- 方阻測試設備: 精準測量電路中的電阻值
- 方阻測試設備: 精準測量電路中的電阻值在電子電路設計和維修中，準確測量電路中各個元件的電阻值是非常重要的。而方阻測試設備就是一種能夠精準測量電路中的電阻值的儀器。本文將介紹方阻測試設備的原理和應用。方...
09-07
2023
- TTV測試的重要性及應用領域分析
- TTV測試是一種常見的半導體器件測試方法，其對半導體芯片的溫度、時間和電壓進行全面檢測，以確保其性能和質量。TTV測試在半導體行業具有重要的應用價值，并在多個領域得到廣泛應用。首先，TTV測試在半導體...
09-07
2023
- GaN表面缺陷檢測設備：高效捕捉氮化鎵材料表面缺陷
- GaN表面缺陷檢測設備：高效捕捉氮化鎵材料表面缺陷氮化鎵（GaN）材料因其優異的電學和光學性能而被廣泛應用于半導體領域。然而，GaN材料的表面缺陷問題一直是制約其應用的一個重要因素。因此，開發一種高效...
09-07
2023
- “SIC缺陷檢測設備：助力生產質量控制的利器”
- SIC缺陷檢測設備：助力生產質量控制的利器隨著科技的不斷發展，生產制造行業也在不斷進步與改善，以提高產品的質量和效率。在生產過程中，質量控制是至關重要的一環。而SIC缺陷檢測設備作為一種先進的技術工具...
09-07
2023
- 電阻率測試儀：精確測量電阻率的專業設備
- 電阻率測試儀：精確測量電阻率的專業設備電阻率測試儀是一種用于測量材料電阻率的專業設備。電阻率是指單位體積內材料的電阻大小，它是衡量材料導電性能的重要參數之一。電阻率測試儀通過將電流通過材料，測量電阻和...
09-07
2023
