02-06

2024

‘盧米納AT1-EFEM：創新科技點亮未來’

盧米納AT1-EFEM：創新科技點亮未來近年來，隨著科技的飛速發展，我們的生活也發生了翻天覆地的變化。人們對于科技創新的需求越來越高，伴隨著這種需求的增長，各種顛覆性的科技產品相繼問世。其中，盧米納A...

02-06

2024

全新二代半導體缺陷檢測儀器亮相

全新二代半導體缺陷檢測儀器亮相近日，全新二代半導體缺陷檢測儀器在一場盛大的發布會上正式亮相。這一儀器采用了最新的技術和算法，為半導體行業的缺陷檢測提供了全新的解決方案。半導體作為現代電子技術的基石，其...

02-06

2024

外延表面缺陷檢測儀器: 保障外延工藝質量的關鍵設備

外延表面缺陷檢測儀器是一種用于保障外延工藝質量的關鍵設備。外延工藝是半導體器件制造過程中的一環，其質量直接影響到最終產品的性能和可靠性。而外延表面缺陷是指外延片表面存在的缺陷，如裂紋、晶界錯配、氧化層...

02-06

2024

“全新Lumina AT2-AUTO：突破創新，引領智能化駕駛風潮”

全新Lumina AT2-AUTO：突破創新，引領智能化駕駛風潮隨著科技的不斷進步，智能化已經成為了各行各業的發展趨勢。智能化駕駛作為汽車行業的重要組成部分，正日益受到人們的關注和追捧。在此背景下，全...

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“探索’亮點AT1’：新一代人工智能技術的奇幻之旅”

《探索亮點AT1：新一代人工智能技術的奇幻之旅》人工智能（Artificial Intelligence，簡稱AI）作為當今科技領域最具前沿性和熱門的技術之一，引發了無數人的關注和探索。而AT1則是新...

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化合物半導體缺陷檢測儀：實時高效的半導體質量監測與分析

化合物半導體缺陷檢測儀：實時高效的半導體質量監測與分析隨著信息技術的快速發展，半導體材料作為電子器件的基礎材料，扮演著越來越重要的角色。然而，半導體材料的質量問題一直是制約器件性能和可靠性的關鍵因素之...

02-06

2024

新研發的SiC缺陷檢測儀助力高效檢測與分析

新研發的SiC缺陷檢測儀助力高效檢測與分析近年來，隨著電子設備的快速發展，對于功率電子器件的需求也越來越高。硅碳化物（SiC）作為一種新型的半導體材料，具有更高的工作溫度、更高的耐壓和更高的開關速度，...

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2024

碳化硅（SiC）：材料科學中的重要角色

碳化硅（SiC）：材料科學中的重要角色碳化硅（SiC）是一種具有廣泛應用前景的材料，在材料科學中扮演著重要的角色。它具有許多優異的性質，包括高熔點、高硬度、高導熱性和優異的化學穩定性等，使其成為了許多...

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2024

《TTV測試儀：全新科技助力高精度測量中心》

《TTV測試儀：全新科技助力高精度測量中心》近年來，隨著半導體工藝的不斷發展和晶片尺寸的不斷減小，對于晶圓表面特性的測試要求也越來越高。在這一背景下，TTV測試儀作為一種全新的科技裝備，成為高精度測量...