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- 《Lumina AT2》亮度提升系列產品：點亮你的世界
- 《Lumina AT2》亮度提升系列產品：點亮你的世界近年來，隨著科技的迅猛發展，人們對于照明產品的要求也越來越高。在這個趨勢下，國內知名照明品牌Lumina推出了一款全新的亮度提升系列產品——《Lu...
02-06
2024
- 探索全新 ‘lumina AT2-U’ – 你的智能照明之選
- 探索全新 \'lumina AT2-U\' - 你的智能照明之選隨著科技的不斷進步，智能家居產品正變得越來越普及。其中，智能照明系統成為了家庭裝飾和改善居住環境的重要組成部分。而今天，我們就要為大家介...
02-06
2024
- 全新硅襯底缺陷檢測儀：突破中文檢測技術的先驅者
- 全新硅襯底缺陷檢測儀：突破中文檢測技術的先驅者隨著信息技術的快速發展，硅襯底在電子行業中的應用越來越廣泛。然而，由于硅襯底的特殊性，其缺陷檢測一直是電子制造過程中的一大難題。針對這一問題，一家名為“先...
02-06
2024
- 半導體表面缺陷檢測儀：提升半導體質量的關鍵工具
- 半導體是現代電子技術的核心材料之一，廣泛應用于集成電路、光電子器件等領域。然而，半導體材料的質量對于器件性能至關重要。為了提高半導體器件的性能，檢測和修復半導體表面缺陷是一項關鍵工作。半導體表面缺陷檢...
02-06
2024
- 《化合物半導體缺陷檢測儀》
- 《化合物半導體缺陷檢測儀》化合物半導體是一種具有優異電學性能的材料，被廣泛應用于光電子器件、太陽能電池等領域。然而，化合物半導體在生長過程中常常會產生各種缺陷，如點缺陷、線缺陷、界面缺陷等，這些缺陷對...
02-06
2024
- ‘魯米納AT2-EFEM：高效能的自動化半導體生產設備’
- 魯米納AT2-EFEM：高效能的自動化半導體生產設備近年來，隨著半導體產業的快速發展，對高效能的自動化生產設備的需求也越來越高。作為一家全球領先的半導體設備制造商，魯米納公司推出了一款全新的自動化半導...
02-06
2024
- SiC缺陷測試技術：提升碳化硅材料質量評估的關鍵
- SiC缺陷測試技術：提升碳化硅材料質量評估的關鍵近年來，碳化硅（SiC）材料在電力電子、光電子、通信等領域得到了廣泛應用。然而，由于其制備過程中難以避免的缺陷，如晶格缺陷、晶界缺陷和氣孔等，SiC材料...
02-06
2024
- 氮化鎵(GaN)：半導體界的新貴
- 氮化鎵（GaN）是一種半導體材料，近年來在半導體界嶄露頭角。由于其優異的電學特性和廣泛的應用前景，GaN被譽為半導體界的新貴。GaN具有許多獨特的特點，使其成為理想的半導體材料之一。首先，GaN具有較...
02-06
2024
- 三代化合物半導體缺陷檢測儀：快速、精確、高效的材料質量評估工具
- 三代化合物半導體缺陷檢測儀：快速、精確、高效的材料質量評估工具隨著半導體材料的快速發展，三代化合物半導體材料作為一種新興材料，具有廣闊的應用前景。然而，由于制備過程中難以避免的缺陷問題，如晶格缺陷、雜...
02-06
2024
