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3D表面輪廓粗糙度
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PARK XE7
所獨有的True Non-Contact?模式
開源的設(shè)計 允許您整合其他附件
簡潔的圖形用戶界面和自動化工具
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PARK NX10
獨有的True Non-Contact?模式 可編程自動化測量
Park消除串擾技術(shù) 亞納米可靠性
掃描離子電導(dǎo)顯微鏡模塊 豐富應(yīng)用領(lǐng)域
性價比高 經(jīng)濟首選
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PARK NX12
電化學(xué)測試的絕佳平臺
原子力顯微鏡(AFM)有納米級分辨率成像以及電、磁、熱和機器性能測量的能力。
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Tencor? P-7
全自動 更高精度 更高效率
全電動150mmXY級、Z級,360° θ階段
垂直范圍1.2mm
頂部模式識別視圖或側(cè)視圖測量可視化
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Tencor? D-300
粗糙度 臺階高精度測量的經(jīng)濟首選
手動140mm平臺
垂直范圍1mm
用于測量可視化的側(cè)視圖光學(xué)系統(tǒng)
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Tencor? D-600
粗糙度 臺階高精度測量的高性價比
XY自動平臺 200mm平臺
垂直范圍1.2mm
用于測量可視化的側(cè)視圖光學(xué)系統(tǒng)
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