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- 外延表面缺陷檢測技術的應用與發展
- 外延表面缺陷檢測技術的應用與發展隨著半導體材料和器件的不斷發展，外延生長技術在半導體工業中扮演著至關重要的角色。然而，在外延生長過程中，不可避免地會出現一些表面缺陷，這些缺陷對器件的性能和可靠性產生不...
07-20
2023
- 《流明AT2》：開啟自由靈動的中文之旅
- 《流明AT2》：開啟自由靈動的中文之旅自由靈動的中文之旅，讓我們一同進入《流明AT2》的世界。這是一款令人興奮的中文學習游戲，通過游戲的方式提升你的中文水平，讓你在玩耍中輕松掌握中文。《流明AT2》是...
07-20
2023
- 《光芒AT2：引領未來的新一代科技》
- 《光芒AT2：引領未來的新一代科技》光芒AT2是一款引領未來的新一代科技產品，它以其強大的性能和先進的技術，成為了全球科技行業的焦點。無論是在通信、醫療、智能家居還是工業生產領域，光芒AT2都能夠發揮...
07-20
2023
- 碳化硅缺陷檢測機：實現無缺陷檢測的技術突破
- 碳化硅缺陷檢測機：實現無缺陷檢測的技術突破碳化硅是一種具有廣泛應用前景的新一代半導體材料，具有優異的熱導率、電導率和機械性能。然而，碳化硅材料常常存在各種缺陷，如晶格缺陷、界面缺陷和氣孔等，這些缺陷可...
07-20
2023
- “朗迷納 AT1-EFEM：照亮你美好的未來”
- 朗迷納AT1-EFEM：照亮你美好的未來隨著科技的不斷進步，家居照明也迎來了全新的時代。作為一家專注于研發創新照明產品的公司，朗迷納（LAMINA）在這個領域中脫穎而出，推出了一款名為AT1-EFEM...
07-20
2023
- 三代化合物半導體表面缺陷檢測
- 三代化合物半導體是一類具有廣闊應用前景的新型材料，其表面缺陷對器件性能具有重要影響。因此，對三代化合物半導體表面缺陷的檢測顯得尤為重要。本文將介紹目前常用的三代化合物半導體表面缺陷檢測方法。首先，最常...
07-20
2023
- 新一代SiC缺陷檢測設備助力半導體行業質量提升
- 新一代SiC缺陷檢測設備助力半導體行業質量提升近年來，隨著科技的不斷發展，半導體材料也得到了廣泛的應用和研究。在半導體材料中，碳化硅（SiC）作為一種新型材料，具有高溫、高頻、高壓等特殊性能，因此在汽...
07-20
2023
- 外延表面缺陷檢測技術的研究與應用
- 外延表面缺陷檢測技術的研究與應用摘要：外延表面缺陷檢測技術是半導體制造中不可或缺的一環。本文主要探討了外延表面缺陷檢測技術的研究現狀和應用前景，包括目前主流的檢測方法、技術特點以及存在的問題和挑戰。通...
07-20
2023
- “探索未知之光：’lumina AT1’帶你走進未來”
- 探索未知之光：\'lumina AT1\'帶你走進未來隨著科技的飛速發展，人們對未來的探索和期待也變得越來越強烈。在這個充滿無限可能的時代，\'lumina AT1\'作為一款具有前瞻性的科技產品，正...
07-20
2023
