首頁 > 新聞中心
- 電阻率測試設備：實時監測導體電阻率的高精度儀器
- 電阻率測試設備：實時監測導體電阻率的高精度儀器電阻率測試設備是一種專門用于實時監測導體電阻率的高精度儀器。它可以通過測量電阻和導體尺寸來計算出導體的電阻率，從而評估導體的導電性能。這種儀器在電力行業、...
07-23
2023
- 新型線光譜測試設備助力科學研究進展
- 新型線光譜測試設備助力科學研究進展近年來，隨著科學技術的不斷進步，越來越多的高精度測試設備被研發出來，為科學研究提供了強有力的支持。其中，新型線光譜測試設備作為一種創新性的測試工具，在科學研究中發揮著...
07-23
2023
- 碳化硅缺陷檢測機：智能化解決方案助力工業質量提升
- 碳化硅缺陷檢測機：智能化解決方案助力工業質量提升近年來，碳化硅材料在電子、半導體、光伏等行業中得到廣泛應用。然而，由于碳化硅材料的特殊性質，其制造過程中常常存在一些難以避免的缺陷。為了確保產品質量，提...
07-23
2023
- 外延表面缺陷檢測技術的研究與應用
- 外延表面缺陷檢測技術的研究與應用近年來，外延表面缺陷檢測技術在半導體工藝制造中發揮著重要的作用。外延表面缺陷是指在外延生長過程中，由于雜質、缺陷或其他原因導致外延層表面出現的瑕疵。這些缺陷可能會對器件...
07-23
2023
- 薄膜厚度的測量方法及應用解析
- 薄膜厚度的測量方法及應用解析薄膜厚度是一種常見的物理性質，廣泛應用于許多領域，如光學、電子、材料科學等。測量薄膜厚度的方法多種多樣，本文將對幾種常見的測量方法及其應用進行解析。一、光學測量法光學測量法...
07-23
2023
- 氮化鎵表面缺陷檢測技術的研究與應用
- 氮化鎵（GaN）是一種重要的半導體材料，具有廣泛的應用潛力，特別是在光電子器件領域。然而，GaN材料表面缺陷對其性能和可靠性產生了重要影響。因此，開發高效的GaN表面缺陷檢測技術對于材料研究和應用具有...
07-23
2023
- 如何選擇膜厚測試設備？
- 選擇膜厚測試設備是一項重要的決策，因為它將直接影響到產品質量和生產效率。膜厚測試設備是用于測量薄膜、涂層或涂料厚度的儀器，廣泛應用于涂料、塑料、電子、汽車、航空航天等行業。在選擇膜厚測試設備時，需要考...
07-23
2023
- 高效檢測二代半導體表面缺陷的方法
- 高效檢測二代半導體表面缺陷的方法隨著半導體技術的不斷發展，二代半導體材料如石墨烯、碳化硅等在電子器件中的應用越來越廣泛。然而，二代半導體材料的表面缺陷問題成為制約其應用的主要因素之一。因此，開發一種高...
07-23
2023
- 化合物半導體缺陷檢測設備：提高半導體品質的新利器
- 化合物半導體缺陷檢測設備：提高半導體品質的新利器化合物半導體材料具有廣泛的應用領域，包括電子器件、光電器件、太陽能電池等。然而，由于制造過程中難以避免的缺陷問題，化合物半導體材料的品質控制一直是一個挑...
07-23
2023
