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- 硅襯底缺陷檢測方法：一種基于圖像處理的新型技術
- 硅襯底缺陷檢測方法：一種基于圖像處理的新型技術近年來，隨著集成電路產業的快速發展，對硅襯底質量的要求也越來越高。硅襯底是集成電路的基礎材料，其中的缺陷會直接影響到電路的性能和可靠性。因此，快速、準確地...
07-31
2023
- 半導體表面缺陷檢測標準：準確評估半導體表面缺陷的中文標準
- 半導體表面缺陷是評估半導體質量和性能的重要指標之一。在半導體制造過程中，表面缺陷可能會對器件的工作穩定性和可靠性產生嚴重影響。因此，制定準確的半導體表面缺陷檢測標準對于保證半導體產品質量至關重要。半導...
07-30
2023
- TTV測試設備：提升質量控制的利器
- TTV測試設備：提升質量控制的利器在現代工業生產中，質量控制是一個至關重要的環節。無論是電子產品、汽車零部件還是其他工業產品，都需要經過嚴格的質量控制流程，以確保產品的可靠性和穩定性。而TTV測試設備...
07-30
2023
- 新一代SiC缺陷檢測機：革命性技術助力高效SiC質量檢驗
- 新一代SiC缺陷檢測機：革命性技術助力高效SiC質量檢驗近年來，隨著半導體材料技術的不斷發展，SiC（碳化硅）作為一種新興的材料已被廣泛應用于電力電子設備、汽車電子等領域。然而，由于其生產過程中往往會...
07-30
2023
- 《TTV測試儀：檢測光學元件平面度的專業工具》
- 《TTV測試儀：檢測光學元件平面度的專業工具》光學元件的平面度是衡量其表面平整度的重要指標之一，對于光學系統的性能和精度有著重要影響。為了保證光學元件的質量，科學家們不斷努力尋找更加精確和高效的檢測工...
07-30
2023
- 新一代半導體缺陷檢測設備
- 新一代半導體缺陷檢測設備近年來，隨著半導體技術的飛速發展，半導體行業在全球范圍內得到了廣泛應用。然而，由于半導體制造過程中存在著各種各樣的缺陷，這些缺陷可能導致產品性能下降甚至失效。因此，對半導體缺陷...
07-30
2023
- GaN表面缺陷檢測儀：全新技術助力高效質檢
- GaN表面缺陷檢測儀：全新技術助力高效質檢近年來，隨著半導體技術的快速發展，GaN（氮化鎵）材料在光電子、電力電子等領域得到了廣泛應用。然而，GaN材料在制備過程中往往會出現一些表面缺陷，這些缺陷會對...
07-30
2023
- “BOW測試：探索中文文本的詞袋模型效果”
- BOW測試：探索中文文本的詞袋模型效果詞袋模型（Bag of Words，BOW）是一種常用的文本表示方法，它將文本中的詞語作為特征，忽略了詞語之間的順序和語法結構，只關注詞匯的出現次數或頻率。本文將...
07-30
2023
- 半導體表面缺陷檢測設備：精準識別技術助力半導體質量保障
- 半導體是現代科技中不可或缺的一部分，而半導體的質量對于電子產品的性能和可靠性有著至關重要的影響。然而，半導體材料在制備過程中往往會產生一些表面缺陷，這些缺陷可能會降低半導體的電學性能，甚至導致器件的失...
07-30
2023
