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- 氮化鎵表面缺陷檢測設備：高精度實時監測技術助力氮化鎵表面質量提升
- 氮化鎵是一種重要的半導體材料，在光電子器件、高功率電子器件以及藍光LED等領域有著廣泛的應用。然而，氮化鎵材料的表面缺陷問題一直以來都是困擾研究者和工程師的難題。因此，研發一種高精度實時監測技術來提升...
08-09
2023
- 電阻率測試設備：準確測量材料導電性能的利器
- 電阻率測試設備：準確測量材料導電性能的利器電阻率是材料導電性能的一個重要指標，它反映了材料導電的難易程度。在工程和科研領域中，準確測量材料的電阻率對于評估材料性能、設計電路和研究電導機制都具有重要意義...
08-09
2023
- “TTV測試：探索中文世界的新視野”
- 《TTV測試：探索中文世界的新視野》TTV是一種新型的測試方式，通過其獨特的設計和方法，為人們提供了探索中文世界的新視野。本文將介紹TTV測試的背景和特點，并探討其在中文學習和溝通中的應用。TTV測試...
08-09
2023
- 碳化硅缺陷檢測設備：精準發現，高效檢測
- 碳化硅缺陷檢測設備：精準發現，高效檢測碳化硅材料在電子、光電和能源等領域具有廣泛應用，因其獨特的物理、化學性質而備受關注。然而，碳化硅材料的制備過程中常常存在著一些缺陷，這些缺陷可能會對材料的性能和穩...
08-09
2023
- 新一代TTV測試儀：精準、高效的中文測量利器
- 新一代TTV測試儀：精準、高效的中文測量利器近年來，隨著科技的不斷發展，各行各業對于測量儀器的要求也越來越高。尤其是在中文領域，由于中文的特殊性，傳統的測量儀器無法滿足精準、高效的需求。然而，隨著新一...
08-09
2023
- 金屬薄膜厚度測試探索
- 金屬薄膜厚度測試探索金屬薄膜是一種應用廣泛的材料，常用于微電子器件、光學薄膜和電池等領域。然而，準確測量金屬薄膜的厚度卻是一項具有挑戰性的任務。本文將探索金屬薄膜厚度測試的方法和技術，以期提高測量的精...
08-09
2023
- 晶圓厚度測試設備：精準測量微米級晶圓厚度的專業裝備
- 晶圓厚度測試設備：精準測量微米級晶圓厚度的專業裝備晶圓厚度測試設備是半導體制造過程中必不可少的一種專業裝備，用于精確測量晶圓的厚度。隨著半導體技術的不斷發展，對晶圓的厚度要求也越來越高，因此晶圓厚度測...
08-09
2023
- 《TTV測試儀：全新智能設備助您更精準地評估產品平整度》
- 《TTV測試儀：全新智能設備助您更精準地評估產品平整度》在現代工業生產中，產品的平整度是一項非常重要的指標。無論是電子設備的屏幕還是機械零件的表面，都需要保持良好的平整度才能確保產品的質量和性能。然而...
08-09
2023
- 光芒璀璨：’lumina AT-EFEM’的中文化之旅
- 光芒璀璨：\'lumina AT-EFEM\'的中文化之旅在當代科技飛速發展的時代，語言翻譯已經變得越來越方便和普及化。\'lumina AT-EFEM\'作為一種先進的翻譯設備，為用戶提供了更加便捷...
08-09
2023
