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- 《Lumina AT-EFEM：新一代中文人工智能系統的誕生》
- 《Lumina AT-EFEM：新一代中文人工智能系統的誕生》人工智能（Artificial Intelligence, AI）是當代科技領域中備受矚目的一個重要領域。近年來，隨著互聯網技術的飛速發展...
08-29
2023
- 砷化鎵缺陷檢測設備：保障砷化鎵材料質量的關鍵利器
- 砷化鎵是一種廣泛應用于半導體材料領域的材料，具有優良的電子特性和光學性能，因此被廣泛用于光電子器件的制造。然而，砷化鎵材料在制備過程中往往會產生一些缺陷，如晶格缺陷、雜質和晶界缺陷等，這些缺陷會直接影...
08-29
2023
- 砷化鎵缺陷檢測設備：實現高效、精準的半導體質量評估
- 砷化鎵是一種常用的半導體材料，廣泛應用于光電子器件、通信設備和能源產業等領域。然而，在砷化鎵的制備過程中常常會出現一些缺陷，如晶體結構問題、雜質摻入、生長缺陷等，這些缺陷會嚴重影響半導體器件的性能和穩...
08-29
2023
- 碳化硅缺陷檢測設備：精準探測技術助力工業質量提升
- 碳化硅材料因其高溫穩定性、耐腐蝕性和電子特性等優點，被廣泛應用于電力、電子、光電等領域。然而，在碳化硅材料的制備過程中，常常會出現一些缺陷，影響其性能和可靠性。因此，對于碳化硅材料的缺陷檢測成為了一個...
08-29
2023
- 線光譜測試設備：助力科研與產業發展的重要工具
- 線光譜測試設備：助力科研與產業發展的重要工具線光譜測試設備是一種廣泛應用于科研和產業領域的重要工具，它通過測量物質在不同波長的光下的吸收、發射和散射等光譜特性，幫助科研人員和工程師進行材料分析、質量控...
08-29
2023
- GaN表面缺陷檢測儀：高效探測半導體材料表面問題的利器
- GaN表面缺陷檢測儀：高效探測半導體材料表面問題的利器近年來，隨著半導體材料在電子、光電子等領域的廣泛應用，對其質量和性能的要求也越來越高。然而，由于制備過程中的不可避免的缺陷，半導體材料的表面問題成...
08-29
2023
- 高效砷化鎵缺陷檢測儀器助您精準分析
- 高效砷化鎵缺陷檢測儀器助您精準分析砷化鎵（GaAs）是一種常用的半導體材料，具有優異的電子特性。然而，由于制備過程中的各種因素，砷化鎵中常常存在一些缺陷，如晶格缺陷、點缺陷等。這些缺陷會嚴重影響材料的...
08-29
2023
- 線光譜測試設備：精準光學科技助力科研領域
- 線光譜測試設備：精準光學科技助力科研領域光學科技在現代科研領域中扮演著重要的角色，而線光譜測試設備作為其中的重要一環，為科研人員提供了精準的光學分析工具。線光譜測試設備的出現，不僅提高了科研人員的工作...
08-29
2023
- 三代化合物半導體缺陷檢測設備：實現精準檢測的關鍵技術突破
- 三代化合物半導體缺陷檢測設備：實現精準檢測的關鍵技術突破隨著科技的進步和需求的增加，半導體設備的研發和生產已經進入了一個全新的階段。特別是在三代化合物半導體的領域，其在光電子、光伏等領域的廣泛應用使得...
08-29
2023
