首頁 > 新聞中心
- GaN缺陷檢測設備：突破禁忌，助力半導體產業發展
- GaN缺陷檢測設備：突破禁忌，助力半導體產業發展近年來，隨著半導體產業的不斷發展，GaN（氮化鎵）材料作為一種新型的半導體材料，受到了廣泛關注。然而，GaN材料在制備過程中常常會出現一些缺陷，這些缺陷...
09-02
2023
- 《TTV測試儀：精準測量，助您掌握產品質量》
- 《TTV測試儀：精準測量，助您掌握產品質量》在現代工業生產中，對產品質量的要求越來越高。為了確保產品的性能和可靠性，各行各業都開始重視產品的質量控制。而在這個過程中，精確的測量是至關重要的一環。本文將...
09-02
2023
- ‘全新升級：Lumina AT2-EFEM帶來更強大性能’
- 全新升級：Lumina AT2-EFEM帶來更強大性能近年來，隨著科技的不斷進步，電子設備的功能和性能要求也越來越高。為滿足市場需求，Lumina公司積極研發創新，最新推出的Lumina AT2-EF...
09-02
2023
- 通過缺陷檢測技術實現GaAs材料的質量評估
- 通過缺陷檢測技術實現GaAs材料的質量評估摘要：GaAs材料作為一種重要的半導體材料，在光電子器件、太陽能電池等領域具有廣泛應用。然而，GaAs材料中的缺陷問題限制了其在高性能器件中的應用。因此，通過...
09-02
2023
- TTV測試：探索中文內容的新境界
- TTV測試: 探索中文內容的新境界近年來，隨著科技的快速發展，人們對于中文內容的需求逐漸增長。在這個信息爆炸的時代，各種平臺紛紛涌現，向我們提供了海量的中文信息。然而，如何從這些信息中篩選出高質量、有...
09-02
2023
- 線光譜測試設備：高精度檢測光譜的利器
- 線光譜測試設備：高精度檢測光譜的利器線光譜測試設備是一種用于檢測光譜的高精度儀器，廣泛應用于科學研究、工業生產等領域。它能夠精確地測量各種光源的光譜信息，幫助人們深入了解光的特性及其應用。線光譜測試設...
09-02
2023
- “全新SiC缺陷檢測設備助力制造業發展”
- 全新SiC缺陷檢測設備助力制造業發展近年來，隨著科技的不斷進步，制造業正經歷著一場革命性的變革。新材料的應用成為推動制造業發展的關鍵之一。硅碳化物（SiC）作為一種具有優異性能的新材料，被廣泛應用于半...
09-02
2023
- 方阻測試儀：快速準確測量電路中的電阻值
- 方阻測試儀：快速準確測量電路中的電阻值電阻是電路中常見的元件之一，它的作用是限制電流的流動。在電子設備的維修和調試過程中，準確測量電路中的電阻值是至關重要的。為了滿足這一需求，方阻測試儀應運而生。方阻...
09-01
2023
- 薄膜厚度測試技術的應用與發展
- 薄膜厚度測試技術的應用與發展隨著科技的不斷進步，薄膜材料在各個領域得到了廣泛的應用，如電子器件、光學器件、太陽能電池等。而薄膜的厚度作為一個重要的物理參數，對于薄膜的性能和功能起著至關重要的作用。因此...
09-01
2023
