首頁 > 新聞中心
- 膜厚測試：探尋材料表面的微觀奧秘
- 膜厚測試：探尋材料表面的微觀奧秘膜厚測試是一種常用的表面檢測手段，用于測量材料的薄膜厚度。薄膜廣泛應用于電子、光學、醫學等領域，因此對膜厚的準確測量至關重要。本文將介紹膜厚測試的原理和應用，并探討其中...
09-04
2023
- 碳化硅缺陷檢測儀：無微不至的質量把控
- 碳化硅是一種重要的半導體材料，廣泛應用于電力電子、汽車電子、光電子等領域。然而，由于其制備過程中存在一些缺陷，如晶格缺陷、界面缺陷、雜質等，會嚴重影響材料的性能和可靠性。因此，對碳化硅材料進行缺陷檢測...
09-04
2023
- 《TTV測試》：窺探未來直播技術的探索之旅
- 《TTV測試》：窺探未來直播技術的探索之旅近年來，隨著科技的不斷發展，直播技術也得到了廣泛的應用和發展。作為一名科技愛好者，我有幸參與了一次關于未來直播技術的探索之旅。這次探索之旅由一家知名的科技公司...
09-04
2023
- 外延表面缺陷檢測設備：實時高精度缺陷識別技術助力半導體制造
- 外延表面缺陷檢測設備：實時高精度缺陷識別技術助力半導體制造近年來，隨著信息技術的迅速發展，半導體行業成為全球制造業的重要支柱之一。半導體芯片作為電子產品的核心部件，其質量和可靠性至關重要。然而，制造半...
09-04
2023
- 選擇合適的碳化硅缺陷檢測廠家，確保產品質量
- 選擇合適的碳化硅缺陷檢測廠家，確保產品質量隨著科技的不斷進步和應用的推廣，碳化硅材料在電子、光電、化工等領域中得到了廣泛的應用。然而，由于碳化硅材料的特性和加工過程中存在的問題，產品的質量往往受到一些...
09-04
2023
- 碳化硅缺陷檢測廠家：尋找您可靠的合作伙伴
- 碳化硅是一種具有廣泛應用前景的材料，它在電子、光電和能源領域有著重要的地位。然而，碳化硅材料在制備過程中往往會出現一些缺陷，如晶體缺陷、雜質和非均勻性等，這些缺陷會直接影響材料的性能和品質。因此，對碳...
09-04
2023
- 【中文】’lumina AT2-U’：透亮明燈，照亮未來的旅程
- ‘Lumina AT2-U’：透亮明燈，照亮未來的旅程隨著科技的不斷進步，人們對于出行的需求也在不斷提高。在過去，我們騎著自行車或者步行，然而現在我們可以乘坐汽車、火車、飛機等多種交通工具。在這些交通...
09-04
2023
- 碳化硅缺陷檢測廠家推薦
- 碳化硅（SiC）是一種具有優異性能的半導體材料，被廣泛應用于電力電子、光電子、通信和汽車等領域。然而，由于制造過程中難免會出現一些質量缺陷，因此需要進行缺陷檢測以保證產品質量。本文將為大家推薦幾家優秀...
09-04
2023
- ‘Lumina AT2-EFEM’：高效能中文EFEM系統
- Lumina AT2-EFEM：高效能中文EFEM系統隨著科技的發展，人工智能正逐漸成為各行各業的關鍵技術。在半導體行業中，EFEM（Equipment Front End Module）系統也成為了...
09-04
2023
