01-25

2024

電阻率測(cè)試儀器：精準(zhǔn)測(cè)量電阻率，助力電子設(shè)備性能評(píng)估

電阻率測(cè)試儀器是一種用于精準(zhǔn)測(cè)量電阻率的設(shè)備，它能夠幫助用戶評(píng)估電子設(shè)備的性能。電阻率是材料的一個(gè)重要物理屬性，它反映了材料的導(dǎo)電性能和電阻程度。通過(guò)測(cè)量材料的電阻率，可以判斷材料的導(dǎo)電性能和適用范圍...

01-25

2024

SiC缺陷檢測(cè)儀：提升SiC材料質(zhì)量的利器

SiC缺陷檢測(cè)儀：提升SiC材料質(zhì)量的利器SiC（碳化硅）材料作為一種具有廣泛應(yīng)用前景的新型材料，具有優(yōu)異的物理特性和化學(xué)穩(wěn)定性，被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電子、電力電子、汽車電子等領(lǐng)域。然而，由于其在制...

01-25

2024

半導(dǎo)體表面缺陷檢測(cè)儀：高效檢測(cè)半導(dǎo)體表面缺陷的利器

半導(dǎo)體表面缺陷檢測(cè)儀：高效檢測(cè)半導(dǎo)體表面缺陷的利器半導(dǎo)體材料在現(xiàn)代電子工業(yè)中扮演著重要的角色，因其優(yōu)異的導(dǎo)電和控制電流特性而被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而，半導(dǎo)體材料的制造過(guò)程中往往會(huì)產(chǎn)生一些表面缺...

01-25

2024

‘盧米納AT2-EFEM：集創(chuàng)新與智能于一身的先進(jìn)機(jī)器人系統(tǒng)’

盧米納AT2-EFEM：集創(chuàng)新與智能于一身的先進(jìn)機(jī)器人系統(tǒng)近年來(lái)，隨著科技的不斷發(fā)展，機(jī)器人技術(shù)也取得了長(zhǎng)足的進(jìn)步。作為一種集創(chuàng)新與智能于一身的先進(jìn)機(jī)器人系統(tǒng)，盧米納AT2-EFEM在新一代機(jī)器人技術(shù)...

01-25

2024

“全球首款A(yù)I駕駛輔助系統(tǒng)——’Lumina AT2-AUTO’亮相”

全球首款A(yù)I駕駛輔助系統(tǒng)——\'Lumina AT2-AUTO\'亮相近日，全球首款A(yù)I駕駛輔助系統(tǒng)——\'Lumina AT2-AUTO\'在北京國(guó)際汽車展覽會(huì)上正式亮相。這款引人注目的駕駛輔助系統(tǒng)...

01-25

2024

全新砷化鎵缺陷檢測(cè)儀：精準(zhǔn)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷

全新砷化鎵缺陷檢測(cè)儀：精準(zhǔn)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷近年來(lái)，隨著科技的不斷發(fā)展，砷化鎵材料在電子行業(yè)中的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。然而，由于制造過(guò)程中的復(fù)雜性和材料的高價(jià)格，砷化鎵產(chǎn)品的質(zhì)量控制一直是一個(gè)重要的問(wèn)題。為了解決...

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2024

氮化鎵表面缺陷檢測(cè)儀：高精度檢測(cè)中文標(biāo)題

氮化鎵表面缺陷檢測(cè)儀：高精度檢測(cè)中文標(biāo)題氮化鎵是一種重要的半導(dǎo)體材料，廣泛應(yīng)用于光電子器件和功率器件領(lǐng)域。然而，氮化鎵在生長(zhǎng)和制備過(guò)程中，往往會(huì)存在一些表面缺陷，這些缺陷會(huì)嚴(yán)重影響器件的性能和可靠性。...

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2024

化合物半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)儀：優(yōu)化材料質(zhì)量的關(guān)鍵利器

化合物半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)儀：優(yōu)化材料質(zhì)量的關(guān)鍵利器近年來(lái)，半導(dǎo)體材料在電子和光電子器件中的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。然而，半導(dǎo)體材料中的缺陷問(wèn)題一直困擾著研究人員和工程師。缺陷會(huì)嚴(yán)重影響材料的性能和器件的可靠性，因...

01-25

2024

外延表面缺陷檢測(cè)儀：高效捕捉晶片表面瑕疵，提升生產(chǎn)質(zhì)量

近年來(lái)，隨著電子產(chǎn)品的迅速發(fā)展，晶片成為了現(xiàn)代社會(huì)中不可或缺的一部分。然而，由于制造過(guò)程中的種種原因，晶片上往往會(huì)存在一些表面缺陷，這些缺陷有可能對(duì)產(chǎn)品的性能和質(zhì)量造成嚴(yán)重影響。因此，為了保證生產(chǎn)質(zhì)量...