01-28

2024

發現SiC缺陷測試的重要性

發現SiC缺陷測試的重要性SiC（碳化硅）是一種具有優異性能的半導體材料，在電力電子、光電子和射頻電子等領域有著廣泛的應用。然而，SiC晶體中存在著各種缺陷，這些缺陷對器件性能和可靠性產生著重要影響。...

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2024

“探索未來：’lumina AT-AUTO’引領新一代智能汽車”

探索未來：\'lumina AT-AUTO\'引領新一代智能汽車隨著科技的不斷發展和人們對便利性的追求，智能汽車已經成為汽車行業的熱門話題。在這個快節奏的時代，人們對于出行的需求越來越高，而智能汽車作...

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2024

外延表面缺陷檢測儀：提升生產質量的利器

外延表面缺陷檢測儀：提升生產質量的利器隨著科技的不斷發展，人們對產品質量的要求也越來越高。在半導體行業，外延片的質量是影響芯片性能的重要因素之一。然而，外延片表面的缺陷往往是難以察覺的，如果不及時檢測...

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TTV測試儀：精準測量片材平整度的終極利器

TTV測試儀：精準測量片材平整度的終極利器TTV測試儀是一種用于測量片材平整度的高精度儀器，被廣泛應用于半導體和光電子行業。它能夠精確測量片材表面的平整度，幫助生產廠商提高產品質量，并減少因片材變形而...

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電阻率測試設備儀器-優質工具助力精準測試

電阻率測試設備儀器-優質工具助力精準測試電阻率測試設備儀器是一種用于測量材料電阻率的工具，通過對材料的電阻與長度、截面積等參數進行測量，可以準確地得到材料的電阻率。這是一項非常重要的測試工作，因為電阻...

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二代半導體缺陷檢測儀器：提高生產效率的利器

二代半導體缺陷檢測儀器：提高生產效率的利器半導體是現代電子技術的基礎，而半導體制造中的缺陷可能導致電子元件的故障，影響產品質量。因此，缺陷檢測在半導體制造過程中變得至關重要。二代半導體缺陷檢測儀器應運...

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碳化硅（SiC）：領跑下一代高效能材料

碳化硅（SiC）：領跑下一代高效能材料碳化硅（Silicon Carbide，簡稱SiC）是一種重要的陶瓷材料，具有優異的物理和化學性能，被廣泛應用于許多領域。它的硬度比鋼高，熱導率高，具有很強的耐高...

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2024

“全新 ‘lumina AT2-EFEM’：革新中的智能化設備”

全新 \'lumina AT2-EFEM\'：革新中的智能化設備近年來，人工智能技術的飛速發展已經滲透到了各個行業和領域。在半導體制造工藝中，設備的智能化程度對于提高生產效率和產品質量起著至關重要的作...

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外延表面缺陷檢測儀器：提高外延片質量的關鍵工具

外延表面缺陷檢測儀器：提高外延片質量的關鍵工具外延片作為半導體材料中的關鍵組成部分，其質量直接影響著半導體器件的性能和可靠性。而外延表面的缺陷問題一直是制約外延片質量提升的重要因素之一。為了解決這一問...